通过顶面和侧面的三维成像，不仅能获得叶面积、叶倾角、冠层等参数，同时还能得到相对其他技术更高的精度和通量。在不影响植物本身生长的情况下，每天能对上万株植物进行多次重复测量，为用户提供有价值的数据，方便了解植物在室内和田间的生长情况。

| 可实现对谷物籽粒（大米、小麦、豆制品等）的个数统计及长宽高体积测量等。

| 满足扫描后秒级生成结果数据。

| 无需外置光源，操作简单，计数准确率达99.8%。

| 可满足谷物籽粒接触、小面积堆叠等场景的视觉检测需求。